近磁界プローブ　TBPS01

H20、H10、H5、E5は磁場(H)および電場(E)プローブで、放射排出量EMC事前コンプライアンス測定用。 プローブは電磁放射源の近くで使用されています。
電子アセンブリのビルディングブロック内の潜在的な干渉源を特定し、特定するのに役立ちます。
プローブは広帯域幅のアンテナと同様に機能し、コンポーネント、PCBトレース、ハウジング開口部または隙間、およびRFを放射する可能性のある他の部品からの放射放射をピックアップします。
プローブは通常スペクトラムアナライザーに接続されています。 PCBアセンブリまたはハウジングの表面をスキャンすると、電磁放射を放出する場所をすばやく識別できます。
小さいサイズのプローブに変更することで、排出の発生元をさらに絞り込むことができます。
追加の用途は、RF信号をプローブに送り込み、それを潜在的に影響を受けやすい回路セクションに放射することによるRF免疫テストです。
さらに、このプローブは、RF信号レベルの非接触測定により、RF信号チェーンの問題を追跡するために修理またはデバッグの分野で使用できます。
もう1つの用途は、モジュレーターやオシレーターなどのRFビルディングブロックの非侵襲的な測定です。
 
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周波数、位相ノイズ、スペクトルコンポーネントは、低ノイズプリアンプと組み合わせて測定できます。